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貝克曼庫爾特（BECKMAN）

自動(dòng)化工作站微型生物反應(yīng)器耗材臺(tái)式離心機(jī)主機(jī)及耗材流式離心機(jī)工具顆粒特性和計(jì)數(shù)產(chǎn)品 Echo耗材高效離心機(jī) 貝克曼吸頭貝克曼離心管熱封器貝克曼藍(lán)色測(cè)試管貝克曼清潔液核酸提取和純化試劑貝克曼核酸純化試劑貝克曼離心管貝克曼離心瓶超速離心機(jī) 貝克曼熱封快封管貝克曼標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試試劑貝克曼稀釋液貝克曼流式細(xì)胞儀鞘液貝克曼DNA純化試劑盒貝克曼自動(dòng)化吸頭貝克曼細(xì)胞活性儀試劑包貝克曼流式細(xì)胞儀熒光微球貝克曼生化試劑貝克曼紅細(xì)胞裂解液貝克曼粒度儀配件貝克曼電極貝克曼離心機(jī)密封圈離心機(jī)轉(zhuǎn)頭貝克曼原廠配件貝克曼售后維修
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貝克曼標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試試劑

描述：

貝克曼標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試試劑，貝克曼標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試粉末，貝克曼標(biāo)準(zhǔn)粒子。
訂貨號(hào)：7800370,7800372,7800377,7800499
貝克曼原廠原包裝。

產(chǎn)品型號(hào)：7800370
廠商性質(zhì)：代理商
更新時(shí)間：2025-08-15
訪問量：5004

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產(chǎn)品詳情/ PRODUCT DETAIL

標(biāo)題：貝克曼標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試試劑

產(chǎn)品概述

貝克曼標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試試劑，貝克曼標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試粉末，貝克曼標(biāo)準(zhǔn)粒子。
訂貨號(hào)：7800370,7800372,7800377,7800499

北京聞易科技有限公司專業(yè)提供貝克曼各類標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試試劑。標(biāo)準(zhǔn)粒子等，如您需要的不在本列表，請(qǐng)致電我司查詢。

Part No	Description
6600703	Dispersant IA Nonionic (15 mL)
6600704	Dispersant IB Nonionic (15 mL)
6600705	Dispersant IC Nonionic (15 mL)
6600706	Dispersant IIA Anionic (15 mL)
6600707	Dispersant IIIA Cationic (15 mL)
6600708	Dispersant Mixed Kit (5 x 15 mL)
7800370	G15, Nominal 15 µm Garnet Particles (10/box)
7800372	GB500, Nominal 500 µm Glass Beads (5 x 19 g)
7800377	L300, Nominal 300 nm Latex Particles
7800499	G35, Nominal 35 µm Garnet Particles
8546733	isoton Ⅲ diluent

貝克曼庫爾特粒度分析儀系列

Multisizer 4e 顆粒/細(xì)胞計(jì)數(shù)及粒度分析儀
Multisizer 3顆粒/細(xì)胞計(jì)數(shù)及粒度分析儀
DelsaMax PRO 多角度Zeta電位及納米粒度同步分析儀
DelsaMax CORE 靜態(tài)分子量與納米粒度同步分析儀
SA3100比表面積及孔徑分析儀
LS 13 320 XR 激光衍射粒度分析儀
LS 13 320系列全新微納米激光粒度分析儀

粒度分析的基本概念

（1）顆粒：具有一定尺寸和形狀的微小物體，是組成粉體的基本單元。它宏觀很小，但微觀卻包含大量的分子和原子；

（2）粒度：顆粒的大小；

（3）粒度分布：用一定的方法反映出一系列不同粒徑顆粒分別占粉體總量的百分比；

（4）粒度分布的表示方法：表格法（區(qū)間分布和累積分布）、圖形法、函數(shù)法，常見的有R-R分布，正態(tài)分布等；

（5）粒徑：顆粒的直徑，一般以微米為單位；

（6）等效粒徑：指當(dāng)一個(gè)顆粒的某一物理特性與同質(zhì)球形顆粒相同或相近時(shí)，我們就用該球形顆粒的直

徑來代表這個(gè)實(shí)際顆粒的直徑；

（7）D10，累計(jì)分布百分?jǐn)?shù)達(dá)到10% 所對(duì)應(yīng)的粒徑值；

D50，累計(jì)分布百分?jǐn)?shù)達(dá)到50%時(shí)所對(duì)應(yīng)的粒徑值；又稱中位徑或中值粒徑；

D90，累計(jì)分布百分?jǐn)?shù)達(dá)到90%時(shí)所對(duì)應(yīng)的粒徑值；

D（4,3）體積或質(zhì)量粒徑平均值；

常用的粒度測(cè)量方法

（1）篩分法

（2）沉降法（重力沉降法、離心沉降法）

（3）電阻法（庫爾特顆粒計(jì)數(shù)器）

（4）顯微鏡（圖像）法

（5）電鏡法

（6）超聲波法

（7）透氣法

（8）激光衍射法

各種方法的優(yōu)缺點(diǎn)

篩分法：優(yōu)點(diǎn)：簡(jiǎn)單、直觀、設(shè)備造價(jià)低、常用于大于40μm的樣品。缺點(diǎn)：不能用于40μm以細(xì)的樣品；結(jié)果受人為因素和篩孔變形影響較大。

顯微鏡法：優(yōu)點(diǎn)：簡(jiǎn)單、直觀、可進(jìn)行形貌分析。缺點(diǎn)：速度慢、代表性差，無法測(cè)超細(xì)顆粒。

沉降法（包括重力沉降和離心沉降）：優(yōu)點(diǎn)：操作簡(jiǎn)便，儀器可以連續(xù)運(yùn)行，價(jià)格低，準(zhǔn)確性和重復(fù)性較好，測(cè)試范圍較大。缺點(diǎn)：測(cè)試時(shí)間較長(zhǎng)。

電阻法：優(yōu)點(diǎn)：操作簡(jiǎn)便，可測(cè)顆粒總數(shù)，等效概念明確，速度快，準(zhǔn)確性好。缺點(diǎn)：測(cè)試范圍較小，小孔容易被顆粒堵塞，介質(zhì)應(yīng)具備嚴(yán)格的導(dǎo)電特性。

電鏡法：優(yōu)點(diǎn)：適合測(cè)試超細(xì)顆粒甚至納米顆粒、分辨率高。缺點(diǎn)：樣品少、代表性差、儀器價(jià)格昂貴。

超聲波法：優(yōu)點(diǎn)：可對(duì)高濃度漿料直接測(cè)量。缺點(diǎn)：分辨率較低。

透氣法：優(yōu)點(diǎn)：儀器價(jià)格低，不用對(duì)樣品進(jìn)行分散，可測(cè)磁性材料粉體。缺點(diǎn)：只能得到平均粒度值，不能測(cè)粒度分布。

激光法：優(yōu)點(diǎn)：操作簡(jiǎn)便，測(cè)試速度快，測(cè)試范圍大，重復(fù)性和準(zhǔn)確性好，可進(jìn)行在線測(cè)量和干法測(cè)量。缺點(diǎn)：結(jié)果受分布模型影響較大

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貝克曼標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試試劑，貝克曼標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試粉末，貝克曼標(biāo)準(zhǔn)粒子。訂貨號(hào)：7800370,7800372,7800377,7800499貝克曼原廠原包裝。

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